首页 >>  这本书是电子专业的必备书籍，工作之后从事相关半导体器件研发也用得上。相较于大量半导体物理和器件的教科书而言，器件测量和表征的书籍本来就很少，该书可谓是较为系统全面的一本。涵盖了电阻率、载流子、势垒、缺陷、栅极氧化层、迁移率测量分析方法，光学化学物理表征手段。这一新版还增加了可靠性分析的内容。可供针对性选择学习。